中国科学院上海硅酸盐研究所曾毅研究员团队成功研制出国产高分辨电子背散射衍射仪（EBSD）样机，打破了国外在该关键材料分析仪器领域的技术垄断。EBSD作为扫描电子显微镜的核心附件，能对材料进行微米尺度的晶体学显微结构高精度分析。此前，全球仅有四家国外公司掌握其制造技术。曾毅团队通过创新性地提出“局部菊池带检测（LKBD）”方法，并将平均角度偏差显著降低38.5%，同时开发了基于“晶面间距高精度计算”的辅助标定新方法，将平均取向计算精度提升50%以上，有效保障了国产EBSD系统的准确性和可靠性。该样机已实现花样标定、相鉴定、面分布采集等基本功能，标志着我国高端材料表征仪器领域的自主创新能力显著提升。

🔬 **技术突破打破垄断**：中国科学院上海硅酸盐研究所曾毅研究员团队成功研制出国产高分辨电子背散射衍射仪（EBSD）样机，填补了国内在这一关键材料分析仪器领域的技术空白，打破了长期以来被国外少数公司垄断的局面，为我国材料科学研究和工业应用提供了重要的自主化设备支持。

💡 **核心技术创新显著**：团队在研制过程中，攻克了多项核心技术难题，包括菊池花样高精度标定方法、核心探测器sCMOS相机以及动态真空密封等。尤为重要的是，他们创新性地提出了“局部菊池带检测（LKBD）”方法，大幅提升了条带识别精度，并开发了基于“晶面间距高精度计算”的辅助标定新方法，显著提高了平均取向计算精度。

🚀 **性能指标大幅提升**：通过“局部菊池带检测（LKBD）”方法的应用，团队实现了平均角度偏差下降38.5%的显著成果。同时，基于“晶面间距高精度计算（误差<5%）”的辅助标定新方法，进一步将平均取向计算精度提升了50%以上，确保了国产EBSD系统的准确性和可靠性达到了先进水平。

✅ **功能完善性能可靠**：研制成功的国产EBSD样机已经成功实现了进口设备所具备的基本功能，包括花样标定、相鉴定以及面分布采集等，证明了其在实际应用中的可行性和可靠性，为用户提供了高质量的材料微观结构分析能力。

🌟 **自主创新能力跃升**：此次成功研制不仅标志着科研团队从仪器应用者向仪器研制者的重要跨越，更将有力提升我国在高端材料表征仪器领域的自主创新能力和国际竞争力，为国家科技发展注入新的动力。

快科技8月3日消息，据媒体报道，中国科学院上海硅酸盐研究所曾毅研究员团队成功研制出国产高分辨电子背散射衍射仪（EBSD）样机。

这一突破标志着我国攻克了长期被国外垄断的关键材料分析仪器技术，为材料科学研究和工业应用提供了坚实支撑。

EBSD是扫描电子显微镜的核心附件，能在微米尺度对材料进行高精度的晶体学显微结构分析。此前，全球仅有4家国外公司掌握其制造技术。

面对技术壁垒，曾毅团队实现了从硬件到软件的全方位创新。他们攻克了菊池花样高精度标定方法、核心探测器sCMOS相机以及动态真空密封等多项关键技术难题。

尤为突出的是，团队创新性地提出了“局部菊池带检测（LKBD）”方法，使平均角度偏差显著下降38.5%，大幅提升了条带识别精度；同时开发了基于“晶面间距高精度计算（误差<5%）”的辅助标定新方法，优化了菊池极筛选策略，将平均取向计算精度提升50%以上。这些核心技术突破有效保障了国产EBSD系统的准确性和可靠性。

据团队介绍，该国产EBSD样机已成功实现了花样标定、相鉴定、面分布采集等进口设备的基本功能。其成功研制，不仅实现了科研团队从设备应用者向仪器研制者的跨越，更将有力提升我国在高端材料表征仪器领域的自主创新能力和国际竞争力。