IT之家 2024年08月13日
SK 海力士:内存 EUV 光刻成本快速增长,考虑转向 4F2 或 3D DRAM
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SK海力士研究员表示未来考虑转向4F2或3D结构的DRAM内存以降低成本,还提到从下一代产品开始可能转向VG或3D DRAM,以及相关技术的优势和面临的问题。

🧐4F2 DRAM是一种垂直构建单元结构的新型内存,其源极、栅极、漏极和电容从下到上放置,字线和位线分别连接到栅极和源极,相较现有6F2 DRAM可减少约30%芯片面积,预计在0a nm节点后量产。

🤔SK海力士从1c DRAM开始,EUV光刻成本迅速增加,现在需考虑制造DRAM的成本效益,从下代1d nm节点开始,先进内存将使用EUV多重曝光,大幅提升光刻环节成本。

😮利用VG或3D DRAM结构,能将内存的EUV光刻成本降至传统6F2 DRAM的一半以下,但VG DRAM在维持1 - 2代工艺的低光刻成本后,EUV成本将回归急剧上升轨道,而3D DRAM路线则需对沉积与蚀刻设备进行大规模投资。

IT之家 8 月 13 日消息,据韩媒 THE ELEC 报道,SK 海力士研究员 Seo Jae-Wook 在韩国水原当地时间 12 日举行的学术会议上表示,未来考虑转向 4F2 或 3D 结构的 DRAM 内存,以降低成本压力。

Seo Jae-Wook 表示:

从 1c DRAM 开始,EUV 光刻成本迅速增加,现在是时候考虑以这种方式制造 DRAM 是否有利可图了。

(SK 海力士)也在考虑是否应该从下一代产品开始转向 VG(IT之家注:即垂直栅极,Vertical Gate)或 3D DRAM。

Seo Jae-Wook 此处提到的 VG DRAM 即 4F2 DRAM三星电子称其为 VCT(垂直通道晶体管)DRAM,是一种垂直构建单元结构的新型内存。

▲ 三星电子此前展示的 VCT DRAM 结构

4F2 DRAM 的源极、栅极、漏极和电容从下到上放置,字线和位线分别连接到栅极和源极,相较现有的 6F2 DRAM 可减少约 30% 芯片面积。Seo Jae-Wook 预计 VG DRAM 将在 0a nm 节点后量产

三星电子、SK 海力士、美光三大原厂采用 EUV 光刻的 1c nm DRAM 即将在 2024~2025 年推出。而从下代 1d nm 节点开始,先进内存将使用 EUV 多重曝光,大幅提升生产流程中 EUV 光刻环节的成本。

Seo Jae-Wook 表示,利用 VG 或 3D DRAM 结构,能将内存的 EUV 光刻成本降至传统 6F2 DRAM 的一半以下

其中对于 VG DRAM,可再维持 1~2 代工艺的低光刻成本,但在那之后 EUV 成本将回归急剧上升轨道;而 3D DRAM 路线则需要对沉积与蚀刻设备进行大规模投资。

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